如何計算設備的cpcpk

❶ cpk怎麼計算

CPK= Min[ (USL- Mu)/3s, (Mu - LSL)/3s]
Cpk應用講議
1. Cpk的中文定義為：製程能力指數，是某個工程或製程水準的量化反應，也是工程評估的一類指標。
2. 同Cpk息息相關的兩個參數：Ca , Cp.
Ca: 製程准確度。 Cp: 製程精密度。
3. Cpk, Ca, Cp三者的關系： Cpk = Cp * ( 1 - ｜Ca｜)，Cpk是Ca及Cp兩者的中和反應，Ca反應的是位置關系(集中趨勢)，Cp反應的是散布關系(離散趨勢)
4. 當選擇製程站別用Cpk來作管控時，應以成本做考量的首要因素，還有是其品質特性對後製程的影響度。
5. 計算取樣數據至少應有20~25組數據，方具有一定代表性。
6. 計算Cpk除收集取樣數據外，還應知曉該品質特性的規格上下限(USL，LSL)，才可順利計算其值。
7. 首先可用Excel的「STDEV」函數自動計算所取樣數據的標准差(σ)，再計算出規格公差(T)，及規格中心值(u). 規格公差＝規格上限－規格下限；規格中心值＝（規格上限+規格下限）/2；
8. 依據公式： ， 計算出製程准確度：Ca值
9. 依據公式：Cp = ， 計算出製程精密度：Cp值
10. 依據公式：Cpk=Cp ， 計算出製程能力指數：Cpk值
11. Cpk的評級標准：（可據此標准對計算出之製程能力指數做相應對策）
A++級 Cpk≥2.0 特優 可考慮成本的降低
A+ 級 2.0 ＞ Cpk ≥ 1.67 優 應當保持之
A 級 1.67 ＞ Cpk ≥ 1.33 良 能力良好，狀態穩定，但應盡力提升為A＋級
B 級 1.33 ＞ Cpk ≥ 1.0 一般 狀態一般，製程因素稍有變異即有產生不良的危險，應利用各種資源及方法將其提升為 A級
C 級 1.0 ＞ Cpk ≥ 0.67 差 製程不良較多，必須提升其能力
D 級 0.67 ＞ Cpk 不可接受 其能力太差，應考慮重新整改設計製程。

❷ 如何計算設備的Cpk

Complex Process Capability index 的縮寫，是現代用於表示製程能力的指標。製程能力是過程性能的允許最大變化范圍與過程的正常偏差的比值。製程能力研究在於確認這些特性符合規格的程度，以保證製程成品不符規格的不良率在要求的水準之上，作為製程持續改善的依據。
當我們的產品通過了GageRR的測試之後，我們即可開始Cpk值的測試。
CPK值越大表示品質越佳。
Cpk——過程能力指數
CPK= Min[ (USL- Mu)/3s, (Mu - LSL)/3s]
Cpk應用講議
1. Cpk的中文定義為：製程能力指數，是某個工程或製程水準的量化反應，也是工程評估的一類指標。
2. 同Cpk息息相關的兩個參數：Ca , Cp.
Ca: 製程准確度。 Cp: 製程精密度。
3. Cpk, Ca, Cp三者的關系： Cpk = Cp * ( 1 - ｜Ca｜)，Cpk是Ca及Cp兩者的中和反應，Ca反應的是位置關系(集中趨勢)，Cp反應的是散布關系(離散趨勢)
4. 當選擇製程站別Cpk來作管控時，應以成本做考量的首要因素，還有是其品質特性對後製程的影響度。
5. 計算取樣數據至少應有20~25組數據，方具有一定代表性。
6. 計算Cpk除收集取樣數據外，還應知曉該品質特性的規格上下限(USL，LSL)，才可順利計算其值。
7. 首先可用Excel的「STDEV」函數自動計算所取樣數據的標准差(σ)，再計算出規格公差(T)，及規格中心值(U). 規格公差T＝規格上限－規格下限；規格中心值U＝（規格上限+規格下限）/2；
8. 依據公式：Ca=(X-U)/(T/2) ， 計算出製程准確度：Ca值 (X為所有取樣數據的平均值)
9. 依據公式：Cp =T/6σ ， 計算出製程精密度：Cp值
10. 依據公式：Cpk=Cp(1-|Ca|) ， 計算出製程能力指數：Cpk值
11. Cpk的評級標准：（可據此標准對計算出之製程能力指數做相應對策）
A++級 Cpk≥2.0 特優 可考慮成本的降低
A+ 級 2.0 ＞ Cpk ≥ 1.67 優 應當保持之
A 級 1.67 ＞ Cpk ≥ 1.33 良 能力良好，狀態穩定，但應盡力提升為A＋級
B 級 1.33 ＞ Cpk ≥ 1.0 一般 狀態一般，製程因素稍有變異即有產生不良的危險，應利用各種資源及方法將其提升為 A級
C 級 1.0 ＞ Cpk ≥ 0.67 差 製程不良較多，必須提升其能力
D 級 0.67 ＞ Cpk 不可接受 其能力太差，應考慮重新整改設計製程。

❸ Cp與Cpk的計算公式

你們的是對的，但是...現在還用什麼ca之類的玩什麼啊，用軟體直接算不就好內了。
ca=(x-u)/(t/2)
，
cp
=t/6σ
，cpk=cp(1-|ca|)
；所以用容你們客戶的公式，當x小於u，即過程均值小於名義規格的時候會有問題。

❹ 如何計算cp和cpk指數

一、cp指數的計算：

Cp=T/（6*σ），其中T=允許最大值（Tu）-允許最小值（Tl）；σ越小，其Cp值越大，則過程技術能力越好。Cp是指過程滿足技術要求的能力，常用客戶滿意的偏差范圍除以六倍的西格瑪的結果來表示。

二、cpk指數的計算：

Cpk=MIN（Tu-μ，μ-Tl）/（3*σ）；或者Cpk=（1-k）*Cp，其中k=ε/（T/2）通常狀況下，質量特性值分布的總體標准差（σ）是未知的，所以應採用樣本標准差（s）來代替。

Cpk是指過程平均值與產品標准規格發生偏移（ε）的大小，常用客戶滿意的上限偏差值減去平均值和平均值減去下限偏差值中數值小的一個，再除以三倍的西格瑪的結果來表示。

(4)如何計算設備的cpcpk擴展閱讀：

cp和cpk指數的意義：

工序能力是表示生產過程客觀存在著分散的一個參數。但是這個參數能否滿足產品的技術要求，僅從它本身還難以看出。因此，還需要另一個參數來反映工序能力滿足產品技術要求的程度。這個參數就叫做工序能力指數，表示技術要求和工序能力的比值。

過程能力指數的值越大，表明產品的離散程度相對於技術標準的公差范圍越小，因而過程能力就越高；過程能力指數的值越小，表明產品的離散程度相對公差范圍越大，因而過程能力就越低。

因此，可以從過程能力指數的數值大小來判斷能力的高低。從經濟和質量兩方面的要求來看，過程能力指數值並非越大越好，而應在一個適當的范圍內取值。

製程能力是過程性能的允許最大變化范圍與過程的正常偏差的比值。製程能力研究在於確認這些特性符合規格的程度，以保證製程成品不符規格的不良率在要求的水準之上，作為製程持續改善的依據。CPK值越大表示生產工序過程保持穩定的能力越充足。

❺ 這個數據ca cp cpk如何計算

首先要把角度轉換為數值數據,例90°12'轉變為90.2,然後使用Ca,Cp,CPK計算公式進行計算.
公式應該回隨便可答以查到,可以使用Minitab專業軟體,不行用EXCEL自己編公式也可以.
知道數據還需要知道規格(也就是上限USL,下限LSL)才可算Ca,Cp,CPK等,因為過程能力與規格相關聯,規格範圍大就容易實現,過程能力相對會好,反之亦然.

❻ cp&cpk 如何計算

一般情況復下& 是字元串連制接運算符 ，C語言中是「與」運算符

Cp： 代表數據集中度。
Cpk：Complex Process Capability index 的縮寫，是現代企業用於表示製程能力的指標。製程能力強才可能生產出質量、可靠性高的產品。既代表了數據的集中度，又代表了數據的準度。
一般情況下是Cp>Cpk

計算公式如下：
Cpk = Cp * ( 1 - ｜Ca｜)，Cpk是Ca及Cp兩者的中和反應，Ca反應的是位置關系(集中趨勢)，Cp反應的是散布關系(離散趨勢)
依據公式：Ca=(X-U)/(T/2) ， 計算出製程准確度：Ca值
依據公式：Cp =T/6 ， 計算出製程精密度：Cp值
依據公式：Cpk=Cp(1-|Ca|) ， 計算出製程能力指數：Cpk值

❼ CP和CPK怎麼計算，區別在哪裡

只有先得出CA，CP才可以算出，計算公式：Cpk = Cp * ( 1 - ｜Ca｜)。

依據公式：Ca=(X-U)/(T/2) ， 計算出製程准確度：Ca值

依據公式：Cp =T/6 ， 計算出製程精密度：Cp值

依據公式：Cpk=Cp(1-|Ca|) ， 計算出製程能力指數：Cpk值

CP和CPK的區別：

CP: 不考慮偏移(均值是規格中心值)時的短期過程能力指數, Cp反映的是能夠達到的過程能力的最高水平, 除非進行剔除普通原因的系統措施.

CPK: 考慮偏移(均值不是規格中心值)時的短期過程能力指數, Cpk反映實際的過程能力, 提高的途徑是減少偏移, 往往是採取一些剔除特殊原因的局部措施即可提高Cpk值.

(7)如何計算設備的cpcpk擴展閱讀：

我們常常提到的過程能力指數Cp、Cpk是指過程的短期能力。Cp是指過程滿足技術要求的能力，常用客戶滿意的偏差范圍除以六倍的西格瑪的結果來表示。T=允許最大值（Tu）-允許最小值（Tl）Cp=T/（6*σ)

所以σ越小，其Cp值越大，則過程技術能力越好。Cpk是指過程平均值與產品標准規格發生偏移（ε）的大小，常用客戶滿意的上限偏差值減去平均值和平均值減去下限偏差值中數值小的一個，再除以三倍的西格瑪的結果來表示。

Cpk=MIN(Tu-μ，μ-Tl）/（3*σ)或者Cpk=（1-k）*Cp，其中k=ε/（T/2）通常狀況下，質量特性值分布的總體標准差（σ）是未知的，所以應採用樣本標准差（s）來代替。

1. 當選擇製程站別Cpk來作管控時，應以成本做考量的首要因素，還有是其品質特性對後製程的影響度。

2. 計算取樣數據至少應有20~25組數據，方具有一定代表性。

3. 計算Cpk除收集取樣數據外，還應知曉該品質特性的規格上下限(USL，LSL)，才可順利計算其值。

4. 首先可用Excel的「STDEV」函數自動計算所取樣數據的標准差(σ)，再計算出規格公差(T)，及規格中心值(u). 規格公差=規格上限－規格下限；規格中心值=（規格上限+規格下限）/2；