xrd儀器的半寬高度怎麼得到
A. 這是XRD求位錯密度的公式，請問△θ是什麼意思是半高寬對應的角度嗎
建議你看看XRD測試的原理，然後很容易裡面△θ是什麼，不知道你所在文獻用的哪種方法測的位錯密度
B. 怎麼用origin得知XRD圖的半峰寬，以計算粒徑
XRD數據改成txt文件之後編輯：只取數據部分，把數據放EXCEL中有兩列取第版二列——即y軸數據，權復制到一個txt文件中。
接下來操作如下：
第1行：空
第2行：10 0.02 10 80 3501（各參數說明：10-XRD掃描起始點，0.02-掃描步長，10-一分鍾掃描長度，80-XRD掃描終點，3501-XRD數據點數）
第3行起問y軸數據。 最後把文件中後綴txt改為mdi。把它拖進JADE就行了
C. XRD半峰寬怎麼算
用origin對衍射峰進行高斯擬合，可得出半高寬
D. 如何利用Jade得到峰所對應的強度，半高寬等數據
首先打開需要分析的XRD數據，點擊左上角File的下拉菜單中「Read」，在彈出的對話框中找到我們數據儲回存的位置，打開。答
如果我們的數據雜峰比較多，那麼首先對圖譜進行平滑處理，在上面的菜單欄中有一個鍵是「smooth」，點擊即可對圖譜進行平滑，但是要注意不要平滑次數太多，會導致圖譜失真。
然後在平滑的左邊有一個鍵是「Find Peaks」，即為尋峰，點擊之後每個峰就被標記了出來。
然後點擊上面菜單中的Analysis的下拉菜單中「Find Peaks」，在彈出的對話框中點擊「Report」。在彈出的新的對話框中便能看到峰所對應的角度、強度、半高寬、峰面積等數據。
E. 知道XRD結果，如何從XRD數據中計算出晶粒的大小
jade 計算的是全譜的粒徑大小，如果你的樣品做的比較好 測出來的各個峰對應的粒徑大小差別不大 如果樣品不太好 直接在儀器上計算出來的是最強峰對應的粒徑大小 就看你想要哪個數據了
F. XRD晶粒尺寸計算
利用謝樂公式來計算
謝樂公式的應用方法Dc = 0.89λ /(B cos θ)(λ為X 射線波長, B為衍射峰半高寬, θ 為衍射角) 雙線法（Williams-Hall）測定金屬晶體中的微觀應力 晶塊尺寸小於0.1μm，且有不均勻應變時衍射線寬化。可用謝樂方程或Hall法作定量計算。 1 衍射線寬化的原因 用衍射儀測定衍射峰的寬化包括儀器寬化和試樣本身引起的寬化。試樣引起的寬化又包括晶塊尺寸大小的影響、不均勻應變（微觀應變）和堆積層錯（在衍射峰的高角一側引起長的尾巴）。後二個因素是由於試樣晶體結構的不完整所造成的。 2 謝樂方程 若假設試樣中沒有晶體結構的不完整引起的寬化，則衍射線的寬化僅是由晶塊尺寸造成的，而且晶塊尺寸是均勻的，則可得到謝樂方程： 式中Size表示晶塊尺寸（nm），K為常數，一般取K=1，λ是X射線的波長(nm)，FW（S）是試樣寬化(Rad)，θ則是衍射角(Rad)。 計算晶塊尺寸時，一般採用低角度的衍射線，如果晶塊尺寸較大，可用較高衍射角的衍射線來代替。此式適用范圍為1-100nm。 3 微觀應變引起的線形寬化 如果存在微觀應力，衍射峰的加寬表示為： 式中Strain表示微觀應變，它是應變數對面間距的比值，用百分數表示。 4 Hall方法 測量二個以上的衍射峰的半高寬FW（S），由於晶塊尺寸與晶面指數有關，所以要選擇同一方向衍射面，如（111）和（222），或（200）和（400）。以 為橫坐標，作 圖，用最小二乘法作直線擬合，直線的斜率為微觀應變的兩倍，直線在縱坐標上的截距即為晶塊尺寸的倒數。 5 半高寬、樣品寬化和儀器寬化 樣品的衍射峰加寬可以用半高寬來表示，樣品的半高寬FWHM是儀器加寬FW（I）和樣品性質（晶塊尺寸細化和微觀應力存在）加寬FW（S）的卷積。 為了求得樣品加寬FW（S），必須建立一個儀器加寬FW（I）與衍射角θ之間的關系，也稱為FWHM曲線。 該曲線可以通過測量一個標樣的衍射譜來獲得。標樣應當與被測試樣的結晶狀態相同，標樣必須是無應力且無晶塊尺寸細化的樣品，晶粒度在25μm以上，如NISTA60Si和LaB6等 注意事項：1晶粒大於100納米以上，用謝樂公式不太准確，因為其半高寬的原因。最准確的是在40nm左右，但是，低於100nm我們都用謝樂公式來算2 謝樂公式只適合球形粒子 對立方體粒子 常數應改為 0.943 半高寬應該轉化為弧度制 半高寬/180 再乘以 3.14
G. 不好意思 請問xrd的儀器的FWHM怎麼得到啊
請問xrd的儀器的FWHM怎麼得到啊?
答：測個標樣，比如:SiO2等！ 就可以得到儀器的FWHM.
希望有所幫助！
H. xrd圖譜中的半寬高是指什麼
衍射峰高度一半處的峰寬