布魯克儀器XRD精修怎麼設置
㈠ 求問【求助】做結構精修的XRD測試參數如何設置呢
比如5－120度以上，銅靶0.02， 每步停留10s以上。
結構精修是指，用一張高質量的譜圖擬版合，驗證你的結構模型正權確。正確的衡量標準是溫度因子和鍵長，鍵角合理，鍵價接近理論值。
如果連一張譜圖都不符合標准，後續的分析工作就是浪費時間。
:)盡量角度大。比如5－120度以上，銅靶0.02， 每步停留10s以上。
結構精修是指，用一張高質量的譜圖擬合，驗證你的結構模型正確。正確的衡量標準是溫度因子和鍵長，鍵角合理，鍵價接近理論值。
如果連一張譜圖都 ... 支持:D
不是啊 軟體不是中文的 這只是我們申請機時的通道 哈哈，碰到同學了。
㈡ xrd分析方法和步驟
對於材料人而言，X射線衍射分析（XRD）可能是最基本但也是最重要的一個表徵。然而，最常用的多晶衍射法有著一些本徵缺點，它得到的譜峰重疊嚴重，從而造成大量材料結構信息損失。1967年，荷蘭科學家Hugo M. Rietveld提出了對中子衍射數據進行Rietveld全譜擬合的方法，克服了多晶衍射的不足。後來，人們也開始採用Rietveld方法對XRD數據進行精修，從而獲得多晶材料的各種結構信息。現在，XRD精修已經得到了廣泛的應用，許多期刊和審稿人也要求作者在提交論文時提供XRD精修結果。但是仍然有很多新同學不了解XRD精修可以用來做什麼，不知道自己要不要學習XRD精修。在此，我們對XRD精修的應用進行了詳細的總結，希望能給大家一些幫助。
2XRD精修的應用
XRD精修的典型應用可以分為如圖1所示的六大類：（1）晶體結構的確定和修正；（2）點陣常數的測定；（3）物相定量分析；（4）獲得鍵長鍵角信息；（5）應力應變分析；（6）其他。
㈢ brukerXRD資料庫是放在哪個文件夾裡面
dedecms 應用的是MYsql資料庫，資料庫文件在資料庫主機上，文件名是你開通時空間辦事商給定的，你在dedecms後台備份資料庫後，可在 data\\backupdata 查看
㈣ XRD粉末衍射做結構精修對譜圖有什麼要求，請教各位
怎麼抄通過XRD圖譜判斷是什麼物質
角度θ為布拉格角或稱為掠射角.關於XRD的測量原理比較復雜,要知道晶體學和X射線知識.簡單的來說（對粉末多晶）：當單色X射線照射到樣品時,若其中一個晶粒的一組面網（hkl）取向和入射線夾角為θ,滿足衍射條件,則在衍射角2θ（衍射線與入射X射線的延長線的夾角）處產生衍射.
但在實際應用中,我們只需用儀器做出XRD圖譜,然後根據pdf卡片來知道所測物質的種類,和結構.pdf卡片是X射線衍射化學分析聯合會建立的物質的衍射資料庫.他們制備了大量的物質,使用者只要把自己的圖譜和標准圖譜對比就能知道自己的物質種類及結構.隨著計算機技術的發展,現在都是通過導入研究者測試得到的XRD圖譜,電腦軟體（如Jade）通過匹配度尋找與之比配的pdf卡片,很方便.
在XRD中,不僅可以定性得到物質的種類,相結構.而且可以通過謝樂公式得到晶粒尺寸以及通過精修手段得到晶胞常數.
㈤ x射線衍射粉末結構解析，為什麼要pawly精修
怎麼復通過XRD圖譜判斷是什麼物制質
角度θ為布拉格角或稱為掠射角.關於XRD的測量原理比較復雜,要知道晶體學和X射線知識.簡單的來說（對粉末多晶）：當單色X射線照射到樣品時,若其中一個晶粒的一組面網（hkl）取向和入射線夾角為θ,滿足衍射條件,則在衍射角2θ（衍射線與入射X射線的延長線的夾角）處產生衍射.
但在實際應用中,我們只需用儀器做出XRD圖譜,然後根據pdf卡片來知道所測物質的種類,和結構.pdf卡片是X射線衍射化學分析聯合會建立的物質的衍射資料庫.他們制備了大量的物質,使用者只要把自己的圖譜和標准圖譜對比就能知道自己的物質種類及結構.隨著計算機技術的發展,現在都是通過導入研究者測試得到的XRD圖譜,電腦軟體（如Jade）通過匹配度尋找與之比配的pdf卡片,很方便.
在XRD中,不僅可以定性得到物質的種類,相結構.而且可以通過謝樂公式得到晶粒尺寸以及通過精修手段得到晶胞常數.
㈥ MS做XRD精修時，摻雜原子怎麼弄進去
修改occupancy，在相同位置上做摻雜是不可以的，就我對MS中occupancy 的理解，它是使建立的模型回更接近於真答實的情況（因為有些晶體並不是化學計量比的，有些元素會出現空位，所以要調整occupancy在來使其接近真實 ）。
如果要建立摻雜的模型，必須建立超晶胞，才能將某個原子（指定的）用摻雜原子替代，否則，替代的將是與選定原子等價的所有原子。
首先，你應該分析你所做的摻雜是幾比幾摻雜，然後根據需求建立超晶胞；
如果是對原胞進行摻雜也要建立超晶胞，只是建立的超晶胞是1*1*1 的。然後再做要求的計算。
㈦ xrd精修採用什麼軟體比較好
highscore plus
㈧ XRD精修如何才能降低
步進掃描，0.02度每秒，每步時間1秒+，高角度很重要，最好2theta掃到140度。
㈨ rietveld 精修 xrd有什麼要求
需要譜圖掃的慢些。