電容用什麼儀器測試電壓

㈠ 如何測試特定電壓下的電容

你是購買電容後需要測試是吧，如果是這樣，測試其漏電流就可以了，用專泄露電流測試儀進屬行測試，電壓按電容標稱電壓設定，時間60秒，儀器正負極與電容正負極相連（千萬不要接反了），然後啟動，時間到後顯示的漏電流如果在標准范圍內，電容漏電流即合格，耐壓一般也沒問題的。
電容測量其真正意義上的耐壓值，需要專業的測量儀器：TV特性測試儀。而且需要把電容器分解，分拆裡面的芯子，取裡面的正箔測量（電容耐電壓，其實就是裡面的正箔耐電壓大小），還需要配置專門的溶液（低壓、高壓電容，配置的溶液會不一樣）。
我是電容器廠家的，其實告訴你一個簡單的方法，電容的耐電壓，一般來說你用其標稱電壓的1.15~1.2倍電壓（低壓1.2倍。高壓1.15倍，），用漏電流測試儀測試，如果漏電流在標准范圍內，且產品沒有發燙，那麼此電容的耐壓絕對沒有問題。

㈡ 電容如何測電壓

如果是篩選，可用一個高於電容標稱值1.5倍左右的直流電源，串聯一個電阻後加到電容兩端，檢查是否有電容發熱，如果不發熱、無外型變化為合格。如果是檢查耐壓極限，可緩慢增加電壓，直至發熱或暴掉為極限值。

㈢ 電解電容的耐壓值用什麼儀器測試

極地耐壓：如300V..100VF電容檢驗規程需1.5倍即450V交流電壓X秒擊穿..破壞性試驗很危險..機殼耐壓....

㈣ 貼片陶瓷電容MLCC 用什麼儀器來測試電壓是用漏電流測試儀通過測試漏電流來反映貼片電容的耐壓嗎

通常，電容器採用的介質材料主要包括：空氣（介電常數K幾乎與真空相同，定義為1）；天然介質：如雲母，介電常數（K）為4～8；合成材料：如陶瓷，K值范圍由9～1500。 電容器所用陶瓷介質是以鈦酸鹽為主要成份，可以通過配方調整製成具有極高介電常數和其他適當電特性的介質材料。這是陶瓷電容器，尤其是片式多層陶瓷電容器（MLCC）技術的基礎。MLCC製造過程中的所有工藝和其它材料的確定原則都趨向於實現其介電性能的最優化

㈤ 電容怎麼測試耐電壓

你是購買電抄容後需要測襲試是吧，如果是這樣，測試其漏電流就可以了，用泄露電流測試儀進行測試，電壓按電容標稱電壓設定，時間60秒，儀器正負極與電容正負極相連（千萬不要接反了），然後啟動，時間到後顯示的漏電流如果在標准范圍內，電容漏電流即合格，耐壓一般也沒問題的。
電容測量其真正意義上的耐壓值，需要專業的測量儀器：TV特性測試儀。而且需要把電容器分解，分拆裡面的芯子，取裡面的正箔測量（電容耐電壓，其實就是裡面的正箔耐電壓大小），還需要配置專門的溶液（低壓、高壓電容，配置的溶液會不一樣）。
告訴你一個簡單的方法，電容的耐電壓，一般來說你用其標稱電壓的1.15~1.2倍電壓（低壓1.2倍。高壓1.15倍，），用漏電流測試儀測試，如果漏電流在標准范圍內，且產品沒有發燙，那麼此電容的耐壓絕對沒有問題

㈥ 利用電容式測量電壓 怎麼測電容的電壓

用數字萬用表直流電壓檔檢測電容器，實際上是一種間接測量法，此方法可測量pF～1μF的小容量電容器，並且能精確測出電容器漏電壓的大小。1、測量方法及原理測量電路如，E為外接的1.5干電池。將數字萬用表撥到直流2檔，紅表筆接被測電容Cx的一個電極，黑表筆接電池負極。 2檔的輸入電阻RIN＝10MΩ。接通電源後，電池E經過RIN向Cx充電，開始建立電壓c。c與充電時間t 的關系式為：由於RIN兩端的電壓就是儀表輸入電壓IN，所以RIN實際上還具有取樣電阻的作用。輸入電壓IN(t)與被測電容上的充電電壓c（t）的變化曲線。可見，IN（t）與c（t）的變化過程正好相反。IN（t）的變化曲線隨時間的增加而降低，而c（t）則隨時間的增加而升高。儀表所顯示的雖然是IN-（t）的變化過程，但卻間接地反映了被測電容器Cx的充電過程。測試時，如果Cx開路（無容量），顯示值就總是「」，如果Cx內部短路，顯示值就總是電池電壓E，均不隨時間改變。表明，剛接通電路時，t＝0，IN=E，數字萬用表最初顯示值即為電池電壓，爾後隨著c（t）的升高，IN（t）逐漸降低，直到IN＝0，Cx充電過程結束，此時c(t)=E。使用數字萬用表電壓檔檢測電容器，不但能檢查pF～1μF的小容量電容器，還能同時測出電容器漏電流的大小。設被測量電容器的漏電流為ID，儀表最後顯示的穩定值為D（單位是），則Id=d/Rin2、實例舉例例一：被測電容為一隻1μF/的固定電容器，使用DT型數字萬用表的2DC檔（RIN＝10MΩ）。連接好電路。最初，儀表顯示1.，然後顯示值慢慢減小，大約經過2min左右，顯示值穩定在0.。據此求出被測電容器的漏電流，被測電容器的漏電流僅為0.3nA，說明質量良好。例二：被測電容器為一隻0.μF/63滌綸電容，測量方法同例一。由於該電容的容量較小，測量時，IN（t）下降很快，大約經過3秒，顯示值就降低到0.。將此值代入式，算出漏電流為0.2nA。3、注意事項1） 測量之前應把電容器兩引腳短路，進行放電，否則可能觀察不到讀數的變化過程。2） 在測量過程中兩手不得碰觸電容電極，以免儀表跳數。3）測量過程中，IN（t）的值是呈指數規律變化的，開始時下降很快，隨著時間的延長，下降速度會越來越緩慢。當被測電容器Cx的容量小於幾千皮法時，由於IN（t）一開始下降太快，而儀表的測量速率較低，來不及反映最初的電壓值，因而儀表最初的顯示值要低於電池電壓E。4）當被測電容器Cx大於1μF時，為了縮短測量時間，可採用電阻檔進行測量。但當被測電容器的容量小於pF時，由於讀數的變化很短暫，所以很難觀察得到充電過程。硬體類一般都上硬之城看那裡比較專業，專業的問題專業解決，這是最快的也是最好的方法，好過自己瞎搞，因為電子元器件的電子型號那些太多了一不小心就會弄錯，所以還是找專業的幫你解決。