AFM是什麼儀器的縮寫

A. 尺寸的AFM測量 是什麼意思

AFM是Atomic Force Microscope的縮寫，即原子力顯微鏡。
AFM利用微懸臂感受和放大懸臂上尖細探針與受測樣品原子之間的作回用答力，從而達到檢測的目的，具有原子級的解析度。
由於原子力顯微鏡既可以觀察導體，也可以觀察非導體，從而彌補了掃描隧道顯微鏡的不足。原子力顯微鏡是由IBM公司蘇黎世研究中心的格爾德·賓寧於一九八五年所發明的，其目的是為了使非導體也可以採用類似掃描探針顯微鏡（SPM）的觀測方法。
原子力顯微鏡（AFM）與掃描隧道顯微鏡（STM）最大的差別在於並非利用電子隧穿效應，而是檢測原子之間的接觸，原子鍵合，范德瓦耳斯力或卡西米爾效應等來呈現樣品的表面特性。
關於詳細的AFM測量原理及其優缺點，請題主參考網路及其它網路資源。

B. SEM、TEM、TG、XRD、AFM、紅外光譜，這幾個分別是測什麼的

測什麼網路一下吧，應該都有詳細的測試原理及項目。

區別應該是 SEM和TEM和AFM，越版來越高級，放大倍數越權來越高。XRD和紅外光譜這兩個是沒什麼關系的，xrd是測試晶體結構的，可以測試晶體結構的，對於可以看出你的材料是什麼。紅外是靠紅外吸收峰的位置與強度反映了分子結構上的特點，可以用來鑒別未知液態水的紅外光譜物的結構組成或確定其化學基團；而吸收譜帶的吸收強度與化學基團的含量有關，可用於進行定量分析和純度鑒定。l紅外主要用於有機化合物的結構鑒定在有機化學、生物化學、葯物學、環境科學等許多領域。

C. 儀器分析中各儀器名稱及英文字母縮寫

紫外UV
紅外FTIR
高效液相HPLC
超高效液相UPLC
氣相GC
液質聯用LC-MS
氣質聯用GC-MS
質譜MS
等離子體質譜ICP-MS等等啦。

D. AFM圖像表徵什麼

AFM：原子力顯微鏡。最傳統的AFM表徵的就是被測樣品的表面形貌（表面的高低版起伏）。樣品權表面納米量級的起伏都可以探測到。現在，人們在傳統AFM基礎上配合其他儀器，如光譜儀，干涉儀等等還可以實現光譜測量，相位測量等等。單獨使用的AFM只能用來表徵形貌。

E. AFM是什麼來的

. 高級調頻
A-fader 音頻衰減...AFM adance frequency molation 高級調頻

F. 常用測量工具或儀器的簡寫代碼

常用測量工具或儀器的簡寫代碼如下：

PP -- 輪廓投影儀  CMM -- 三坐標測量儀  

QV -- 光學三座標影像儀 CAL -- 卡尺

MC -- 千分尺 SR -- 鋼尺 

MT -- 皮尺  GSP -- 大理石平台  

HG -- 高度規 PG -- 針規

TPG -- 塞規       BG -- 量塊

RG -- 半徑規               LCR -- 電感電阻電橋測定計（三用表）             

MM -- 數字萬用表 MS -- 顯微鏡               

DI -- 數顯千分表 DTM/STM -- 數字工具顯微鏡

R -- 放大鏡 DHM -- 測高計

S -- 直尺 DFG -- 測力計

V --目視 TOM -- 數字拉力實驗機

CO -- 投影儀 MSP --顯微鏡

SBT -- 焊錫附著實驗裝置 TSG -- 剝離實驗裝置

(6)AFM是什麼儀器的縮寫擴展閱讀：

常用測量工具的維護保養：

正確地使用精密量具是保證產品質量的重要條件之一。要保持量具的精度和它工作的可靠性，除了在使用中要按照合理的使用方法進行操作以外，還必須做好量具的維護和保養工作。

1、測量前應把量具測量面和零件被測量面都要揩乾凈，以免因有臟物存在而影響測量精度。用精密量具如游標卡尺、百分尺和百分表等，去測量鍛鑄件毛坯，或帶有研磨劑(如金剛砂等)的表面是錯誤的，這樣易使測量面很快磨損而失去精度。

2、量具在使用過程中，不要和工具、刀具如銼刀、榔頭、車刀和鑽頭等堆放在一起，免碰傷量具。尤其是游標卡尺等，應平放在專用盒子里，免使尺身變形。

3、量具是測量工具，絕對不能作為其他工具的代用品。例如拿游標卡尺劃線，拿百分尺當小榔頭，拿鋼直尺當起子旋螺釘，以及用鋼直尺清理切屑等都是錯誤的。

4、溫度對測量結果影響很大，零件的精密測量一定要使零件和量具都在20℃的情況下進行測量。一般可在室溫下進行測量，但必須使工件與量具的溫度一致，否則，由於金屬材料的熱脹冷縮的特性，使測量結果不準確。

5、溫度對量具精度的影響亦很大，量具溫度升高後，也量不出正確尺寸。更不要把精密量具放在熱源附近，以免使量具受熱變形而失去精度。

6、不要把精密量具放在磁場附近，以免使量具感磁。

7、發現精密量具有不正常現象時，如量具表面不平、有毛刺、有銹斑以及刻度不準、尺身彎曲變形、活動不靈活等等，使用者不應當自行拆修。

8、量具使用後，應及時揩乾凈，除不銹鋼量具或有保護鍍層者外，金屬表面應塗上一層防銹油，放在專用的盒子里，保存在乾燥的地方，以免生銹。

9、精密量具應實行定期檢定和保養，長期使用的精密量具，要定期送計量站進行保養和檢定精度，以免因量具的示值誤差超差而造成產品質量事故。

G. 原子力顯微鏡(AFM)圖像處理軟體中Ra Rq Rz分別代表什麼意思

Ra 普通平均
Rq 均方根
Rz 應該是z方向的最大值

H. AFMT是什麼的縮寫

不知道lz想問什麼
AFMT after fixing main terms 主要（租船）條款確認以後

AFMT 鋁箔麥拉膠帶

I. 什麼是AFM

明。AFM 是一種類似於STM 的顯微技術，它的許多元件和STM是共同的，如用於三 維掃描的電壓陶瓷系統以及反饋控制器等。它和STM 最大的不同是用一個對微弱作用 力極其敏感的微懸臂針尖代替了STM 的隧道針尖，並以探測原子間的微小作用力(Van der Walls』 Force)代替了STM 的微小穿遂電流。因為這樣所以AFM 不在像STM 侷限於 樣品必須為導體才行，AFM 適用於導體和非導體，它的應用範圍比STM 廣泛的多，因 此AFM 為目前最被廣泛應用在工業界的掃描探針式顯微術。但值得注意的是AFM 的 解析度並沒有STM 來的好！AFM的探針,一般是利用半導體工業的平面製程方法一體成行的。為了使探針有原 子級的解析度，探針乃呈角錐形，使頂端只具有一顆或數顆穩定原子；為使探針具高靈 敏的原子力感應度，角錐形探針底部乃連結於一槓桿之前緣，此槓桿彎曲程度將反映出 原子力的大小。為測量彎曲度的大小，常用的方法是打一雷射光於懸臂上，而反射回來 的雷射光則利用一能區分光點位置的感光二極體來接收，如此便能得到懸臂受原子力彎 曲的程度，進而得到原子力圖像(見圖十一)。圖十一. 為AFM 的針尖探測示意圖。AFM工藝 由美國與薩諸塞州Dynetics公司開發的Dynaflow磨料流加工工藝(AFM)是一種強迫含磨料的介質在工件表面或孔中往復運動的金屬精加工工藝, 它具有廣泛的應用前景。 年前, AFM當最先出現時, 它主要用於清除金屬件中難於到達的內通道及相交部位的毛刺。它特別適用於加工難加工合金材料製成的結構復雜的航空元件。近年來, 它已被用於精加工流體動力元件中表面粗糙度要求達0.127µm的不能接近的內表面。AFM的基本原理：介質速度最大時, 磨光的能力也最大。這里, 夾具的結構起著重要作用, 它決定著介質速度在何處最大。夾具用於使工件定位和建立介質流動軌跡, 是精加工所選擇部位而不觸及相鄰部位的關鍵所在。 AFM的分類﹕(1) 接觸式﹕利用探針和待測物表面之原子力交互作用(一定要接觸)，此 作用力(原子間的排斥力)很小，但由於接觸面積很小，因此過大的作用力 仍會損壞樣品，尤其對軟性材質，不過較大的作用力可得較佳解析度，所 以選擇較適當的作用力便十分的重要。由於排斥力對距離非常敏感，所以較易得到原子解析度。 (2) 非接觸式﹕為了解決接觸式之AFM 可能破壞樣品的缺點，便有非接 觸式之AFM 被發展出來，這是利用原子間的長距離吸引力來運作，由於 探針和樣品沒有接觸，因此樣品沒有被破壞的問題，不過此力對距離的 變化非常小，所以必須使用調變技術來增加訊號對雜訊比。在空氣中由於 樣品表面水模的影響，其解析度一般只有50nm，而在超高真空中可得原子解析度。 (3) 輕敲式﹕將非接觸式AFM 改良，將探針和樣品表面距離拉近，增大振福，使探針再振盪至波谷時接觸樣品由於樣品的表面高低起伏，使的振幅改變，再利用接觸式的回饋控制方式，便能取得高度影像。解析度界於接觸式和非接觸式之間，破壞樣品之機率大為降低，且不受橫向力的干擾。不過對很硬的樣品而言，針尖仍可能受損。