測試ic的儀器有哪些
1. 半導體封裝測試方面，都需要用到哪些設備
基本封裝設備：
B/G: 磨片
lamination：貼膜
DA: 貼片
W/B：打線
Mold：塑封
marking：列印
S/G：切割回
基本測試設備：
B/I 設備： 對產品進行信賴性答評價
test設備: 對產品進行電性測試；
LIS: 對產品外觀進行檢查
2. 請問電子元器件（IC集成電路類產品）的檢測設備有哪些最好能告知這些設備的用途及購買平台。謝謝！
你去IC購商城的的產品分類中的測試和測量頻道中看看，裡面估計有的
3. IC在線測試儀的特點是
可實現不從板上拆下IC即可測試IC的好壞，可以識別被人為抹去的IC型號等，可以實現以下幾大回功能，【答ASA曲線分析測試】、【分立元器件測試】、【邏輯器件功能測試】、【邏輯器件性能測試】、【電路板圖像建庫測試】、【晶體管特性曲線測試】、【電路板網路測試】、【UDT自定義測試】、【AFT電路故障追蹤】、【運算放大器測試】、【光電耦合器測試】、【存儲器測試】
4. 集成電路的檢測都會使用到哪些檢測設備
集成電路的檢測（IC test）分為wafer test（晶圓檢測）、chip test（晶元檢測）和package test（封裝檢測）。
wafer test是在晶圓從晶圓廠生產出來後，切割減薄之前的檢測。其設備通常是測試廠商自行開發製造或定製的，一般是將晶圓放在測試平台上，用探針探到晶元中事先確定的檢測點，探針上可以通過直流電流和交流信號，可以對其進行各種電氣參數檢測。
對於光學IC，還需要對其進行給定光照條件下的電氣性能檢測。
wefer test主要設備：探針平台。
wefer test輔助設備：無塵室及其全套設備。
wefer test是效率最高的測試，因為一個晶圓上常常有幾百個到幾千個甚至上萬個晶元，而這所有晶元可以在測試平台上一次性檢測。
chip test是在晶圓經過切割、減薄工序，成為一片片獨立的chip之後的檢測。其設備通常是測試廠商自行開發製造或定製的，一般是將晶圓放在測試平台上，用探針探到晶元中事先確定的檢測點，探針上可以通過直流電流和交流信號，可以對其進行各種電氣參數檢測。chip test和wafer test設備最主要的區別是因為被測目標形狀大小不同因而夾具不同。
對於光學IC，還需要對其進行給定光照條件下的電氣性能檢測。
chip test主要設備：探針平台（包括夾持不同規格chip的夾具）
chip test輔助設備：無塵室及其全套設備。
chip test能檢測的范圍和wafer test是差不多的，由於已經經過了切割、減薄工序，還可以將切割、減薄工序中損壞的不良品挑出來。但chip test效率比wafer test要低不少。
package test是在晶元封裝成成品之後進行的檢測。由於晶元已經封裝，所以不再需要無塵室環境，測試要求的條件大大降低。
一般package test的設備也是各個廠商自己開發或定製的，通常包含測試各種電子或光學參數的感測器，但通常不使用探針探入晶元內部（多數晶元封裝後也無法探入），而是直接從管腳連線進行測試。
由於package test無法使用探針測試晶元內部，因此其測試范圍受到限制，有很多指標無法在這一環節進行測試。但package test是最終產品的檢測，因此其檢測合格即為最終合格產品。
IC的測試是一個相當復雜的系統工程，無法簡單地告訴你怎樣判定是合格還是不合格。
一般說來，是根據設計要求進行測試，不符合設計要求的就是不合格。而設計要求，因產品不同而各不相同，有的IC需要檢測大量的參數，有的則只需要檢測很少的參數。
事實上，一個具體的IC，並不一定要經歷上面提到的全部測試，而經歷多道測試工序的IC，具體在哪個工序測試哪些參數，也是有很多種變化的，這是一個復雜的系統工程。
例如對於晶元面積大、良率高、封裝成本低的晶元，通常可以不進行wafer test，而晶元面積小、良率低、封裝成本高的晶元，最好將很多測試放在wafer test環節，及早發現不良品，避免不良品混入封裝環節，無謂地增加封裝成本。
IC檢測的設備，由於IC的生產量通常非常巨大，因此向萬用表、示波器一類手工測試一起一定是不能勝任的，目前的測試設備通常都是全自動化、多功能組合測量裝置，並由程序控制，你基本上可以認為這些測試設備就是一台測量專用工業機器人。
IC的測試是IC生產流程中一個非常重要的環節，在目前大多數的IC中，測試環節所佔成本常常要佔到總成本的1/4到一半。
5. 電子廠常用的儀器有哪些
萬用標是基本的抄,LCR數字電橋,電池測試儀,低電阻測試儀,電容測試儀,電感測試儀,直流電子負載,交流電子負載,顯微鏡,示波器,萬能表,信號發生器,千分表,百分表,可編程電源,扭力計,電容耐壓測試儀,超高耐壓測試儀,電線電纜測試儀,電池內阻測試儀,數字示波器,便攜示波器等
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6. 晶元測試儀有什麼作用什麼牌子的好
北京博基興業科技有限公司研發的Chip Tester晶元測試儀就是根據目前市場上假冒偽劣愈演愈烈，廣大用戶及商家深受其害而開發的應用於流通環節質量控制的、企業能夠購買的、便宜的晶元測試設備。測試儀由測試主機、測試工業溫度擴展機、測試功能擴展板、晶元封裝適配器以及相關的配件組成。
一、功能簡介
測試器件的輸入電阻、工作電流、工作電壓、器件功能、性能測試；
器件等級篩選，可有效的區分商業級、工業級以及軍工級；
驗證器件的生產信息以及對器件編程校驗等；
輸出完整的測試報告，顯示器件的VI特性；
支持各種中小規模、大規模、超大規模數字集成電路。
二、服務項目
承接晶元測試服務，可測試各種邏輯器件、處理器晶元、可編程邏輯器件、存儲器晶元、各種匯流排介面電路、定時器、數字電位器、模擬開關、ADC、DAC、運算放大器、音頻功率放大器、電壓調整器件、電壓基準、光耦電路、電源管理晶元等
專用晶元測試設備研發，可根據客戶的要求訂制各種型號的晶元測試設備。由於多功能的測試設備價格高昂，很多客戶盡管有需求，但是為了節約成本，無法購買。針對此種情況，我們可以為您提供訂制服務。
晶元質量分析與可靠性測試，以及老化、篩選試驗 ，很多科研院所以及企業的產品應用領域都有著特殊的要求，為了確保這種要求，往往對於產品所用到的器件進行各種嚴格的篩選，如高低溫測試、老化測試以及超參數性能驗證，利用Chip Tester晶元測試儀可有效而且快速的完成。
製作測試夾具, 開發晶元測試程序，可以幫助客戶製作各種不同封裝，管腳數量較多的測試夾具，利用工程師多年的研發經驗，快速的幫客戶開發針對晶元各項參數的測試程序。
批量測試方案制定完善，對於使用大批量晶元的客戶，為了確保測試效率，我們可以為您提供各種自動的測試方案，如增加機械手，自動抓取晶元。
公司地址就在北京中發電子市場旁邊，可以去市場購買晶元後順便購買，很方便哦！
7. 晶元I-V曲線測試買什麼儀器好
您好來，我看到您的問題很久自沒有人來回答，但是問題過期無人回答會被扣分的並且你的懸賞分也會被沒收！所以我給你提幾條建議：
一，你可以選擇在正確的分類下去提問，這樣知道你問題答案的人才會多一些，回答的人也會多些。
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三，你可以向你的網上好友問友打聽，他們會更加真誠熱心為你尋找答案的，甚至可以到相關網站直接搜索.
四，網上很多專業論壇以及知識平台，上面也有很多資料，我遇到專業性的問題總是上論壇求解決辦法的。
五，將你的問題問的細一些，清楚一些！讓人更加容易看懂明白是什麼意思!
謝謝採納我的建議! !
8. 測試儀器儀表包含有哪些
常見的測試測量儀器包括了有以下種類：
通信測試儀器，虛擬儀專器，高性能屬測試儀器，電路參數測量儀器 ，萬用表，交直流電源，直流電子負載，LCR測試儀，掃頻儀，功率計，頻率計，測量探頭及附（配）件，儀表配線，邏輯分析儀，功率分析儀，電能質量分析儀，電流測量儀表，紅外熱像儀，超聲波電源，測厚儀。
——來源：《儀商情》
9. 主要的測繪儀器有哪些
常規的：水準儀，經緯儀，全站儀，測距儀，激光掃平儀，鋼尺
先進的：RTK，手持GPS，信標機（水上用），測深儀（水上測繪）
室內的：列印機，繪圖儀，掃描儀
其他的：三維激光掃描儀，
10. 線路板檢測用的儀器有哪些
線路板檢測儀器有很多的，只能大概和你說幾款，用於FPC補強的有補強機，檢測線路板阻抗的有tdr阻抗測試儀，檢孔的有檢孔機，檢測多層孔壓合是否偏位的有X光檢查機，檢測線寬的有線寬檢測儀，等等！