pcba過爐焊接空焊哪些
❶ pcba目檢崗位職責是什麼
PCBA製程:PCBA是英文(Printed Circuit Board Assembly)縮寫,意思:印刷電路板組裝,也就是說PCB空板經過上件,再經過DIP插件的整個製程,簡稱PCBA製程。pcba目檢就是眼睛檢查印刷電路板組裝。
一、pcba目檢崗位主要職責如下:
1、按工藝指導書要求使用進行操作;
2、按計劃要求清點pcb(PrintedCircuitBoard,意思剛性線路板 )數量;
3、根據元件焊接的質量標准,對每個元件的焊點、是否錯料進行檢驗;
4、負責新產品的生產導入工作:BOM(Bill of Materials,簡稱BOM,意思物料清單)審核、物料工序分配、可生產性評審及改善;
5、負責編寫PCB板的焊接加工組裝工藝,編制相關作業指導書;
6、負責電子產品生產(板級組裝)工藝流程、工藝標準的制定和實施,分析、解決現場工藝問題;
7、負責與電子產品生產(板級組裝)相關的工裝夾具等製作;
8、負責與設計研發有效溝通,反饋並監督可製造性設計改善的有效執行;
9、負責後工序數據分析,利用統計工具分析改善不良環節。
二、pcba目檢崗位要求如下:
1、PCBA目檢,年齡18--40歲,男女不限;
2、中專或以上學歷,有PCBA檢驗經驗;
3、熟悉IPC-A-610(電子裝配可接收性,作為電子裝配的標准)檢驗標准;
4、 具有較強品質意識;
5、吃苦耐勞,配合加班,服從不同崗位調配。
❷ pcba通常用什麼和什麼來表示測量數據質量的高低
不同測試方法和測試儀器有不同的測試數據、測試應用范圍、測試分析方法。
一、300X顯微鏡
使用步驟
將要觀察之物品放置於平台上.
調整適當倍率及焦距至最清晰畫面.
使用360°旋轉鏡頭觀察該物品之狀態.
應用范圍
零件吃錫面高度判定.
空,冷焊判定.
異物辨識與錫珠辨識.
零件破裂情況觀察.
其他.
判定規格
吃錫面高度需高於25%.
錫珠大小需小於18um,同一板上不得大於7顆.
零件不可有破損.
不可有爐膛助焊劑滴落板上與棉絮殘留等異物.
其他依外觀檢驗標准.
備注:
可依需求選擇使用平面鏡或側視鏡.
二、紅墨水試驗
使用步驟
先使用336A清潔機板(BGA間距內)上之助焊劑殘留物.
將待測物灌入(BGA gap)適量紅墨水.
確認紅墨水已完全滲入間隙中後再將待測物放入烤箱烘烤(以120℃約60min).
以鉗子將BGA強制拆除.
使用300X顯微鏡觀察PCB&BGA的相對應pad是否有紅墨水滲入,若有即表示該接合點有crack或空焊.
應用范圍
零件(BGA)接合面crack.
零件(BGA)接合面空焊.
判定規格
若有紅墨水滲入PCB&BGA的相對應pad即表示該接合點有crack或空焊現象.
備注
此工具運用於Fiber Inspection,X-Ray無法觀察到異常,而又無法確認異常點是在那一個pad時.
三、切片
使用步驟
將壓克力粉與硬化劑以1:1比率適量攪拌.
待測物以壓克力夾夾住並放置在盒內.
將攪拌均勻之壓克力劑適量倒入盒內,約等30min待其固化再取出.
再將待測物由研磨機磨至不良點(經由粗磨-->細磨-->拋光).
應用范圍
Crack(BGA接合面,零件腳,零件內部).
空焊(BGA內部錫球接合面).
Cold Solder(BGA內部錫球接合面).
各零件腳接合面觀察.
判定規格
此工具是在確定不良點時,再研磨至該不良點,用以確認其實際不良原因,輔助對策之下達.
備注
常配合SEM&EDS使用.
四、SEM&EDS
使用步驟
目前廠內無此儀器,若有需求時以送外分析方式進行.
先以SEM取得適當之倍率,確定不良物位置(可量測不良點大小).
以游標點選測試不良點位置進行表面EDS量測.
應用范圍
SEM:觀測被測物表面上之細微異常現象.
EDS:測試被測物體表面元素與含量分析(例如用於零件pad或PCBpad不吃錫使用).
判定規格
取良品與不良品同時做此較測試,觀察其測試結果之元素含量是否有異.
確認所測得之元素比率是否有超出標准或含有異常成分,若有即表示異常.
五、側邊顯微鏡
使用步驟
調整鏡頭高度至PCB&BGA substrate間距之間.
調整光源與焦聚使畫面達到最清晰為止.
移動鏡頭時需將鏡頭上升再移動,以防止鏡頭損壞.
觀察BGA四周是否有crack時,須配合使用尖銳物輕微將BGA substrate翹起才可看到Crack.
應用范圍
solder joint(錫球焊接面好壞判斷).
空,冷焊及短路判斷.
Crack判斷.
異物介入(判斷是否有異物或助焊劑過多).
判定規格
錫球與PCB錫膏有接觸但未接合,且表面不平(cold solder).
接合面間有污染物.
solder ball與PCB(orBGA)pad撥離(crack).
備注
Fiber Inspection只能看到外圈錫球的接合狀況,若為內部接合問題需使用其他工具.
六、X-Ray
使用步驟
將待測物放入機台平台(若有需要旋轉時需固定).
調整power & X-Ray head高度.
選擇Solder Ball中最大Void並量測其面積.
應用范圍
檢視BGA短路.
檢視Solder Ball的Void.
若為明顯空焊時亦可以看出.
BGA缺球.
判定規格
Void Spec.(IPC7095):
1.class 1:
in solder ball center:D<60%;A<36%
inpad(PCB&BGA):D<50%;A<25%
2.class 2:
in solder ball center:D<45%;A<20.25%
in pad(PCB&BGA):D<35%;A<12.25%
3.class3:
in solder ball center:D<30%;A<9%
in pad(PCB&BGA):D<20%;A<4%
使用步驟
將待測物放入機台平台.
以游標點選基準點與待測區.
按」Run」key自動量測錫膏印刷質量.
應用范圍
錫膏厚度,面積,體積量測.
3D模擬(可用以判定印刷質量,如錫尖).
SPC統計.
判定規格
依目前廠內錫膏厚度量測標准(0.175~0.191mm)
資料參考:http://www.gyxpcb.com/news/jszc/141.html