xrd仪器的半宽高度怎么得到
A. 这是XRD求位错密度的公式，请问△θ是什么意思是半高宽对应的角度吗
建议你看看XRD测试的原理，然后很容易里面△θ是什么，不知道你所在文献用的哪种方法测的位错密度
B. 怎么用origin得知XRD图的半峰宽，以计算粒径
XRD数据改成txt文件之后编辑：只取数据部分，把数据放EXCEL中有两列取第版二列——即y轴数据，权复制到一个txt文件中。
接下来操作如下：
第1行：空
第2行：10 0.02 10 80 3501（各参数说明：10-XRD扫描起始点，0.02-扫描步长，10-一分钟扫描长度，80-XRD扫描终点，3501-XRD数据点数）
第3行起问y轴数据。 最后把文件中后缀txt改为mdi。把它拖进JADE就行了
C. XRD半峰宽怎么算
用origin对衍射峰进行高斯拟合，可得出半高宽
D. 如何利用Jade得到峰所对应的强度，半高宽等数据
首先打开需要分析的XRD数据，点击左上角File的下拉菜单中“Read”，在弹出的对话框中找到我们数据储回存的位置，打开。答
如果我们的数据杂峰比较多，那么首先对图谱进行平滑处理，在上面的菜单栏中有一个键是“smooth”，点击即可对图谱进行平滑，但是要注意不要平滑次数太多，会导致图谱失真。
然后在平滑的左边有一个键是“Find Peaks”，即为寻峰，点击之后每个峰就被标记了出来。
然后点击上面菜单中的Analysis的下拉菜单中“Find Peaks”，在弹出的对话框中点击“Report”。在弹出的新的对话框中便能看到峰所对应的角度、强度、半高宽、峰面积等数据。
E. 知道XRD结果，如何从XRD数据中计算出晶粒的大小
jade 计算的是全谱的粒径大小，如果你的样品做的比较好 测出来的各个峰对应的粒径大小差别不大 如果样品不太好 直接在仪器上计算出来的是最强峰对应的粒径大小 就看你想要哪个数据了
F. XRD晶粒尺寸计算
利用谢乐公式来计算
谢乐公式的应用方法Dc = 0.89λ /(B cos θ)(λ为X 射线波长, B为衍射峰半高宽, θ 为衍射角) 双线法（Williams-Hall）测定金属晶体中的微观应力 晶块尺寸小于0.1μm，且有不均匀应变时衍射线宽化。可用谢乐方程或Hall法作定量计算。 1 衍射线宽化的原因 用衍射仪测定衍射峰的宽化包括仪器宽化和试样本身引起的宽化。试样引起的宽化又包括晶块尺寸大小的影响、不均匀应变（微观应变）和堆积层错（在衍射峰的高角一侧引起长的尾巴）。后二个因素是由于试样晶体结构的不完整所造成的。 2 谢乐方程 若假设试样中没有晶体结构的不完整引起的宽化，则衍射线的宽化仅是由晶块尺寸造成的，而且晶块尺寸是均匀的，则可得到谢乐方程： 式中Size表示晶块尺寸（nm），K为常数，一般取K=1，λ是X射线的波长(nm)，FW（S）是试样宽化(Rad)，θ则是衍射角(Rad)。 计算晶块尺寸时，一般采用低角度的衍射线，如果晶块尺寸较大，可用较高衍射角的衍射线来代替。此式适用范围为1-100nm。 3 微观应变引起的线形宽化 如果存在微观应力，衍射峰的加宽表示为： 式中Strain表示微观应变，它是应变量对面间距的比值，用百分数表示。 4 Hall方法 测量二个以上的衍射峰的半高宽FW（S），由于晶块尺寸与晶面指数有关，所以要选择同一方向衍射面，如（111）和（222），或（200）和（400）。以 为横坐标，作 图，用最小二乘法作直线拟合，直线的斜率为微观应变的两倍，直线在纵坐标上的截距即为晶块尺寸的倒数。 5 半高宽、样品宽化和仪器宽化 样品的衍射峰加宽可以用半高宽来表示，样品的半高宽FWHM是仪器加宽FW（I）和样品性质（晶块尺寸细化和微观应力存在）加宽FW（S）的卷积。 为了求得样品加宽FW（S），必须建立一个仪器加宽FW（I）与衍射角θ之间的关系，也称为FWHM曲线。 该曲线可以通过测量一个标样的衍射谱来获得。标样应当与被测试样的结晶状态相同，标样必须是无应力且无晶块尺寸细化的样品，晶粒度在25μm以上，如NISTA60Si和LaB6等 注意事项：1晶粒大于100纳米以上，用谢乐公式不太准确，因为其半高宽的原因。最准确的是在40nm左右，但是，低于100nm我们都用谢乐公式来算2 谢乐公式只适合球形粒子 对立方体粒子 常数应改为 0.943 半高宽应该转化为弧度制 半高宽/180 再乘以 3.14
G. 不好意思 请问xrd的仪器的FWHM怎么得到啊
请问xrd的仪器的FWHM怎么得到啊?
答：测个标样，比如:SiO2等！ 就可以得到仪器的FWHM.
希望有所帮助！
H. xrd图谱中的半宽高是指什么
衍射峰高度一半处的峰宽