布鲁克仪器XRD精修怎么设置
㈠ 求问【求助】做结构精修的XRD测试参数如何设置呢
比如5-120度以上,铜靶0.02, 每步停留10s以上。
结构精修是指,用一张高质量的谱图拟版合,验证你的结构模型正权确。正确的衡量标准是温度因子和键长,键角合理,键价接近理论值。
如果连一张谱图都不符合标准,后续的分析工作就是浪费时间。
:)尽量角度大。比如5-120度以上,铜靶0.02, 每步停留10s以上。
结构精修是指,用一张高质量的谱图拟合,验证你的结构模型正确。正确的衡量标准是温度因子和键长,键角合理,键价接近理论值。
如果连一张谱图都 ... 支持:D
不是啊 软件不是中文的 这只是我们申请机时的通道 哈哈,碰到同学了。
㈡ xrd分析方法和步骤
对于材料人而言,X射线衍射分析(XRD)可能是最基本但也是最重要的一个表征。然而,最常用的多晶衍射法有着一些本征缺点,它得到的谱峰重叠严重,从而造成大量材料结构信息损失。1967年,荷兰科学家Hugo M. Rietveld提出了对中子衍射数据进行Rietveld全谱拟合的方法,克服了多晶衍射的不足。后来,人们也开始采用Rietveld方法对XRD数据进行精修,从而获得多晶材料的各种结构信息。现在,XRD精修已经得到了广泛的应用,许多期刊和审稿人也要求作者在提交论文时提供XRD精修结果。但是仍然有很多新同学不了解XRD精修可以用来做什么,不知道自己要不要学习XRD精修。在此,我们对XRD精修的应用进行了详细的总结,希望能给大家一些帮助。
2XRD精修的应用
XRD精修的典型应用可以分为如图1所示的六大类:(1)晶体结构的确定和修正;(2)点阵常数的测定;(3)物相定量分析;(4)获得键长键角信息;(5)应力应变分析;(6)其他。
㈢ brukerXRD数据库是放在哪个文件夹里面
dedecms 应用的是MYsql数据库,数据库文件在数据库主机上,文件名是你开通时空间办事商给定的,你在dedecms后台备份数据库后,可在 data\\backupdata 查看
㈣ XRD粉末衍射做结构精修对谱图有什么要求,请教各位
怎么抄通过XRD图谱判断是什么物质
角度θ为布拉格角或称为掠射角.关于XRD的测量原理比较复杂,要知道晶体学和X射线知识.简单的来说(对粉末多晶):当单色X射线照射到样品时,若其中一个晶粒的一组面网(hkl)取向和入射线夹角为θ,满足衍射条件,则在衍射角2θ(衍射线与入射X射线的延长线的夹角)处产生衍射.
但在实际应用中,我们只需用仪器做出XRD图谱,然后根据pdf卡片来知道所测物质的种类,和结构.pdf卡片是X射线衍射化学分析联合会建立的物质的衍射数据库.他们制备了大量的物质,使用者只要把自己的图谱和标准图谱对比就能知道自己的物质种类及结构.随着计算机技术的发展,现在都是通过导入研究者测试得到的XRD图谱,电脑软件(如Jade)通过匹配度寻找与之比配的pdf卡片,很方便.
在XRD中,不仅可以定性得到物质的种类,相结构.而且可以通过谢乐公式得到晶粒尺寸以及通过精修手段得到晶胞常数.
㈤ x射线衍射粉末结构解析,为什么要pawly精修
怎么复通过XRD图谱判断是什么物制质
角度θ为布拉格角或称为掠射角.关于XRD的测量原理比较复杂,要知道晶体学和X射线知识.简单的来说(对粉末多晶):当单色X射线照射到样品时,若其中一个晶粒的一组面网(hkl)取向和入射线夹角为θ,满足衍射条件,则在衍射角2θ(衍射线与入射X射线的延长线的夹角)处产生衍射.
但在实际应用中,我们只需用仪器做出XRD图谱,然后根据pdf卡片来知道所测物质的种类,和结构.pdf卡片是X射线衍射化学分析联合会建立的物质的衍射数据库.他们制备了大量的物质,使用者只要把自己的图谱和标准图谱对比就能知道自己的物质种类及结构.随着计算机技术的发展,现在都是通过导入研究者测试得到的XRD图谱,电脑软件(如Jade)通过匹配度寻找与之比配的pdf卡片,很方便.
在XRD中,不仅可以定性得到物质的种类,相结构.而且可以通过谢乐公式得到晶粒尺寸以及通过精修手段得到晶胞常数.
㈥ MS做XRD精修时,掺杂原子怎么弄进去
修改occupancy,在相同位置上做掺杂是不可以的,就我对MS中occupancy 的理解,它是使建立的模型回更接近于真答实的情况(因为有些晶体并不是化学计量比的,有些元素会出现空位,所以要调整occupancy在来使其接近真实 )。
如果要建立掺杂的模型,必须建立超晶胞,才能将某个原子(指定的)用掺杂原子替代,否则,替代的将是与选定原子等价的所有原子。
首先,你应该分析你所做的掺杂是几比几掺杂,然后根据需求建立超晶胞;
如果是对原胞进行掺杂也要建立超晶胞,只是建立的超晶胞是1*1*1 的。然后再做要求的计算。
㈦ xrd精修采用什么软件比较好
highscore plus
㈧ XRD精修如何才能降低
步进扫描,0.02度每秒,每步时间1秒+,高角度很重要,最好2theta扫到140度。
㈨ rietveld 精修 xrd有什么要求
需要谱图扫的慢些。