电容用什么仪器测试电压

㈠ 如何测试特定电压下的电容

你是购买电容后需要测试是吧，如果是这样，测试其漏电流就可以了，用专泄露电流测试仪进属行测试，电压按电容标称电压设定，时间60秒，仪器正负极与电容正负极相连（千万不要接反了），然后启动，时间到后显示的漏电流如果在标准范围内，电容漏电流即合格，耐压一般也没问题的。
电容测量其真正意义上的耐压值，需要专业的测量仪器：TV特性测试仪。而且需要把电容器分解，分拆里面的芯子，取里面的正箔测量（电容耐电压，其实就是里面的正箔耐电压大小），还需要配置专门的溶液（低压、高压电容，配置的溶液会不一样）。
我是电容器厂家的，其实告诉你一个简单的方法，电容的耐电压，一般来说你用其标称电压的1.15~1.2倍电压（低压1.2倍。高压1.15倍，），用漏电流测试仪测试，如果漏电流在标准范围内，且产品没有发烫，那么此电容的耐压绝对没有问题。

㈡ 电容如何测电压

如果是筛选，可用一个高于电容标称值1.5倍左右的直流电源，串联一个电阻后加到电容两端，检查是否有电容发热，如果不发热、无外型变化为合格。如果是检查耐压极限，可缓慢增加电压，直至发热或暴掉为极限值。

㈢ 电解电容的耐压值用什么仪器测试

极地耐压：如300V..100VF电容检验规程需1.5倍即450V交流电压X秒击穿..破坏性试验很危险..机壳耐压....

㈣ 贴片陶瓷电容MLCC 用什么仪器来测试电压是用漏电流测试仪通过测试漏电流来反映贴片电容的耐压吗

通常，电容器采用的介质材料主要包括：空气（介电常数K几乎与真空相同，定义为1）；天然介质：如云母，介电常数（K）为4～8；合成材料：如陶瓷，K值范围由9～1500。 电容器所用陶瓷介质是以钛酸盐为主要成份，可以通过配方调整制成具有极高介电常数和其他适当电特性的介质材料。这是陶瓷电容器，尤其是片式多层陶瓷电容器（MLCC）技术的基础。MLCC制造过程中的所有工艺和其它材料的确定原则都趋向于实现其介电性能的最优化

㈤ 电容怎么测试耐电压

你是购买电抄容后需要测袭试是吧，如果是这样，测试其漏电流就可以了，用泄露电流测试仪进行测试，电压按电容标称电压设定，时间60秒，仪器正负极与电容正负极相连（千万不要接反了），然后启动，时间到后显示的漏电流如果在标准范围内，电容漏电流即合格，耐压一般也没问题的。
电容测量其真正意义上的耐压值，需要专业的测量仪器：TV特性测试仪。而且需要把电容器分解，分拆里面的芯子，取里面的正箔测量（电容耐电压，其实就是里面的正箔耐电压大小），还需要配置专门的溶液（低压、高压电容，配置的溶液会不一样）。
告诉你一个简单的方法，电容的耐电压，一般来说你用其标称电压的1.15~1.2倍电压（低压1.2倍。高压1.15倍，），用漏电流测试仪测试，如果漏电流在标准范围内，且产品没有发烫，那么此电容的耐压绝对没有问题

㈥ 利用电容式测量电压 怎么测电容的电压

用数字万用表直流电压档检测电容器，实际上是一种间接测量法，此方法可测量pF～1μF的小容量电容器，并且能精确测出电容器漏电压的大小。1、测量方法及原理测量电路如，E为外接的1.5干电池。将数字万用表拨到直流2档，红表笔接被测电容Cx的一个电极，黑表笔接电池负极。 2档的输入电阻RIN＝10MΩ。接通电源后，电池E经过RIN向Cx充电，开始建立电压c。c与充电时间t 的关系式为：由于RIN两端的电压就是仪表输入电压IN，所以RIN实际上还具有取样电阻的作用。输入电压IN(t)与被测电容上的充电电压c（t）的变化曲线。可见，IN（t）与c（t）的变化过程正好相反。IN（t）的变化曲线随时间的增加而降低，而c（t）则随时间的增加而升高。仪表所显示的虽然是IN-（t）的变化过程，但却间接地反映了被测电容器Cx的充电过程。测试时，如果Cx开路（无容量），显示值就总是“”，如果Cx内部短路，显示值就总是电池电压E，均不随时间改变。表明，刚接通电路时，t＝0，IN=E，数字万用表最初显示值即为电池电压，尔后随着c（t）的升高，IN（t）逐渐降低，直到IN＝0，Cx充电过程结束，此时c(t)=E。使用数字万用表电压档检测电容器，不但能检查pF～1μF的小容量电容器，还能同时测出电容器漏电流的大小。设被测量电容器的漏电流为ID，仪表最后显示的稳定值为D（单位是），则Id=d/Rin2、实例举例例一：被测电容为一只1μF/的固定电容器，使用DT型数字万用表的2DC档（RIN＝10MΩ）。连接好电路。最初，仪表显示1.，然后显示值慢慢减小，大约经过2min左右，显示值稳定在0.。据此求出被测电容器的漏电流，被测电容器的漏电流仅为0.3nA，说明质量良好。例二：被测电容器为一只0.μF/63涤纶电容，测量方法同例一。由于该电容的容量较小，测量时，IN（t）下降很快，大约经过3秒，显示值就降低到0.。将此值代入式，算出漏电流为0.2nA。3、注意事项1） 测量之前应把电容器两引脚短路，进行放电，否则可能观察不到读数的变化过程。2） 在测量过程中两手不得碰触电容电极，以免仪表跳数。3）测量过程中，IN（t）的值是呈指数规律变化的，开始时下降很快，随着时间的延长，下降速度会越来越缓慢。当被测电容器Cx的容量小于几千皮法时，由于IN（t）一开始下降太快，而仪表的测量速率较低，来不及反映最初的电压值，因而仪表最初的显示值要低于电池电压E。4）当被测电容器Cx大于1μF时，为了缩短测量时间，可采用电阻档进行测量。但当被测电容器的容量小于pF时，由于读数的变化很短暂，所以很难观察得到充电过程。硬件类一般都上硬之城看那里比较专业，专业的问题专业解决，这是最快的也是最好的方法，好过自己瞎搞，因为电子元器件的电子型号那些太多了一不小心就会弄错，所以还是找专业的帮你解决。