AFM是什么仪器的缩写

A. 尺寸的AFM测量 是什么意思

AFM是Atomic Force Microscope的缩写，即原子力显微镜。
AFM利用微悬臂感受和放大悬臂上尖细探针与受测样品原子之间的作回用答力，从而达到检测的目的，具有原子级的分辨率。
由于原子力显微镜既可以观察导体，也可以观察非导体，从而弥补了扫描隧道显微镜的不足。原子力显微镜是由IBM公司苏黎世研究中心的格尔德·宾宁于一九八五年所发明的，其目的是为了使非导体也可以采用类似扫描探针显微镜（SPM）的观测方法。
原子力显微镜（AFM）与扫描隧道显微镜（STM）最大的差别在于并非利用电子隧穿效应，而是检测原子之间的接触，原子键合，范德瓦耳斯力或卡西米尔效应等来呈现样品的表面特性。
关于详细的AFM测量原理及其优缺点，请题主参考网络及其它网络资源。

B. SEM、TEM、TG、XRD、AFM、红外光谱，这几个分别是测什么的

测什么网络一下吧，应该都有详细的测试原理及项目。

区别应该是 SEM和TEM和AFM，越版来越高级，放大倍数越权来越高。XRD和红外光谱这两个是没什么关系的，xrd是测试晶体结构的，可以测试晶体结构的，对于可以看出你的材料是什么。红外是靠红外吸收峰的位置与强度反映了分子结构上的特点，可以用来鉴别未知液态水的红外光谱物的结构组成或确定其化学基团；而吸收谱带的吸收强度与化学基团的含量有关，可用于进行定量分析和纯度鉴定。l红外主要用于有机化合物的结构鉴定在有机化学、生物化学、药物学、环境科学等许多领域。

C. 仪器分析中各仪器名称及英文字母缩写

紫外UV
红外FTIR
高效液相HPLC
超高效液相UPLC
气相GC
液质联用LC-MS
气质联用GC-MS
质谱MS
等离子体质谱ICP-MS等等啦。

D. AFM图像表征什么

AFM：原子力显微镜。最传统的AFM表征的就是被测样品的表面形貌（表面的高低版起伏）。样品权表面纳米量级的起伏都可以探测到。现在，人们在传统AFM基础上配合其他仪器，如光谱仪，干涉仪等等还可以实现光谱测量，相位测量等等。单独使用的AFM只能用来表征形貌。

E. AFM是什么来的

. 高级调频
A-fader 音频衰减...AFM adance frequency molation 高级调频

F. 常用测量工具或仪器的简写代码

常用测量工具或仪器的简写代码如下：

PP -- 轮廓投影仪  CMM -- 三坐标测量仪  

QV -- 光学三座标影像仪 CAL -- 卡尺

MC -- 千分尺 SR -- 钢尺 

MT -- 皮尺  GSP -- 大理石平台  

HG -- 高度规 PG -- 针规

TPG -- 塞规       BG -- 量块

RG -- 半径规               LCR -- 电感电阻电桥测定计（三用表）             

MM -- 数字万用表 MS -- 显微镜               

DI -- 数显千分表 DTM/STM -- 数字工具显微镜

R -- 放大镜 DHM -- 测高计

S -- 直尺 DFG -- 测力计

V --目视 TOM -- 数字拉力实验机

CO -- 投影仪 MSP --显微镜

SBT -- 焊锡附着实验装置 TSG -- 剥离实验装置

(6)AFM是什么仪器的缩写扩展阅读：

常用测量工具的维护保养：

正确地使用精密量具是保证产品质量的重要条件之一。要保持量具的精度和它工作的可靠性，除了在使用中要按照合理的使用方法进行操作以外，还必须做好量具的维护和保养工作。

1、测量前应把量具测量面和零件被测量面都要揩干净，以免因有脏物存在而影响测量精度。用精密量具如游标卡尺、百分尺和百分表等，去测量锻铸件毛坯，或带有研磨剂(如金刚砂等)的表面是错误的，这样易使测量面很快磨损而失去精度。

2、量具在使用过程中，不要和工具、刀具如锉刀、榔头、车刀和钻头等堆放在一起，免碰伤量具。尤其是游标卡尺等，应平放在专用盒子里，免使尺身变形。

3、量具是测量工具，绝对不能作为其他工具的代用品。例如拿游标卡尺划线，拿百分尺当小榔头，拿钢直尺当起子旋螺钉，以及用钢直尺清理切屑等都是错误的。

4、温度对测量结果影响很大，零件的精密测量一定要使零件和量具都在20℃的情况下进行测量。一般可在室温下进行测量，但必须使工件与量具的温度一致，否则，由于金属材料的热胀冷缩的特性，使测量结果不准确。

5、温度对量具精度的影响亦很大，量具温度升高后，也量不出正确尺寸。更不要把精密量具放在热源附近，以免使量具受热变形而失去精度。

6、不要把精密量具放在磁场附近，以免使量具感磁。

7、发现精密量具有不正常现象时，如量具表面不平、有毛刺、有锈斑以及刻度不准、尺身弯曲变形、活动不灵活等等，使用者不应当自行拆修。

8、量具使用后，应及时揩干净，除不锈钢量具或有保护镀层者外，金属表面应涂上一层防锈油，放在专用的盒子里，保存在干燥的地方，以免生锈。

9、精密量具应实行定期检定和保养，长期使用的精密量具，要定期送计量站进行保养和检定精度，以免因量具的示值误差超差而造成产品质量事故。

G. 原子力显微镜(AFM)图像处理软件中Ra Rq Rz分别代表什么意思

Ra 普通平均
Rq 均方根
Rz 应该是z方向的最大值

H. AFMT是什么的缩写

不知道lz想问什么
AFMT after fixing main terms 主要（租船）条款确认以后

AFMT 铝箔麦拉胶带

I. 什么是AFM

明。AFM 是一種類似於STM 的顯微技術，它的許多元件和STM是共同的，如用於三 維掃描的電壓陶瓷系統以及反饋控制器等。它和STM 最大的不同是用一個對微弱作用 力極其敏感的微懸臂針尖代替了STM 的隧道針尖，並以探測原子間的微小作用力(Van der Walls’ Force)代替了STM 的微小穿遂電流。因為這樣所以AFM 不在像STM 侷限於 樣品必須為導體才行，AFM 適用於導體和非導體，它的應用範圍比STM 廣泛的多，因 此AFM 為目前最被廣泛應用在工業界的掃描探針式顯微術。但值得注意的是AFM 的 解析度並沒有STM 來的好！AFM的探針,一般是利用半導體工業的平面製程方法一體成行的。為了使探針有原 子級的解析度，探針乃呈角錐形，使頂端只具有一顆或數顆穩定原子；為使探針具高靈 敏的原子力感應度，角錐形探針底部乃連結於一槓桿之前緣，此槓桿彎曲程度將反映出 原子力的大小。為測量彎曲度的大小，常用的方法是打一雷射光於懸臂上，而反射回來 的雷射光則利用一能區分光點位置的感光二極體來接收，如此便能得到懸臂受原子力彎 曲的程度，進而得到原子力圖像(見圖十一)。圖十一. 為AFM 的針尖探測示意圖。AFM工艺 由美国与萨诸塞州Dynetics公司开发的Dynaflow磨料流加工工艺(AFM)是一种强迫含磨料的介质在工件表面或孔中往复运动的金属精加工工艺, 它具有广泛的应用前景。 年前, AFM当最先出现时, 它主要用于清除金属件中难于到达的内通道及相交部位的毛刺。它特别适用于加工难加工合金材料制成的结构复杂的航空元件。近年来, 它已被用于精加工流体动力元件中表面粗糙度要求达0.127µm的不能接近的内表面。AFM的基本原理：介质速度最大时, 磨光的能力也最大。这里, 夹具的结构起着重要作用, 它决定着介质速度在何处最大。夹具用于使工件定位和建立介质流动轨迹, 是精加工所选择部位而不触及相邻部位的关键所在。 AFM的分类﹕(1) 接触式﹕利用探针和待测物表面之原子力交互作用(一定要接触)，此 作用力(原子间的排斥力)很小，但由于接触面积很小，因此过大的作用力 仍会损坏样品，尤其对软性材质，不过较大的作用力可得较佳分辨率，所 以选择较适当的作用力便十分的重要。由于排斥力对距离非常敏感，所以较易得到原子分辨率。 (2) 非接触式﹕为了解决接触式之AFM 可能破坏样品的缺点，便有非接 触式之AFM 被发展出来，这是利用原子间的长距离吸引力来运作，由于 探针和样品没有接触，因此样品没有被破坏的问题，不过此力对距离的 变化非常小，所以必须使用调变技术来增加讯号对噪声比。在空气中由于 样品表面水模的影响，其分辨率一般只有50nm，而在超高真空中可得原子分辨率。 (3) 轻敲式﹕将非接触式AFM 改良，将探针和样品表面距离拉近，增大振福，使探针再振荡至波谷时接触样品由于样品的表面高低起伏，使的振幅改变，再利用接触式的回馈控制方式，便能取得高度影像。分辨率界于接触式和非接触式之间，破坏样品之机率大为降低，且不受横向力的干扰。不过对很硬的样品而言，针尖仍可能受损。