声发射仪器突然没反映怎么办
⑴ 耳声发射未通过的常见原因是什么
耳声发射,它是新生儿听力筛查的一个方法,如果是新生儿耳生发射,没有版通过,有可能是耳蜗的毛细胞权发育还没有完全。另外,耳声发射异常,还有一些是耳蜗性的耳聋或者是药物中毒性的耳聋或者噪音性耳聋,还有梅尼埃病等都可能会引起耳声发射的异常。还有耳声发射,因为要通过中耳反射过来,因此如果是中耳炎症,鼓室积液或者是甚至外耳道炎都有可能会引起耳声发射未通过。因此,在耳声发射之前,首先要检查耳道鼓膜的情况是否正常,只有耳道鼓膜正常了,才可以作耳声发射。希望能帮助到您!
⑵ 耳声发射有两个点没通过怎么办
脑壳里面没货 太空旷了,所以有回音
⑶ 如何处理三轴试验机与声发射仪器的联合使用
试验对象不一样,原理是一样的,因为都是三轴试验嘛。但是岩石三轴试验仪器压力一般是油压的,压力值也比较高,会达到兆帕级别的,而土三轴仪器的由气源或者是水来提供,数值也比较低,一般不到一兆帕。
⑷ 声发射的仪器相比较
声发射从技术产生开始到现在一直在发展。声发射仪器也是一直在进步。有将这个发展简单的分了一下阶段,您可以看一下。
第一阶段,1965年,美国Dunegan推出了首台商业化的声发射仪,一直到1983年基本都是纯模拟技术实现的声发射仪,也是第一代声发射仪;
第二代声发射仪,1983~1994年,美国PAC的SPARTAN-AT开始引入微处理器,并将声发射系统模块化,部分数字化;
第三代声发射仪,1994~2003年,美国DW、美国PAC和德国Vallen将声发射仪全面数字化,声发射传感器接收到的信号经过放大器放大之后直接经AD变换器专为数字信号,然后用数字电路硬件提取特征参数,并按照PDT、HDT、HLT等时间常数来提取声发射波形;
第四代声发射仪,2003~2015年,美国PAC将18bit的高速ADC引入PCI总线声发射卡,开启了18bit的高精度采集,除了特征参数和波形外,还启用了包含全部原始信息的波形流功能。在此期间,USB接口的声发射仪也开始出现,并逐步从USB2.0发展到USB3.0,总线传输速度也从40MB提高到400MB;
第五代声发射仪,2015至今,中国的鹏翔公司推出了PCIE总线的声发射卡,单卡8通道,每通道18bit30M采样,频率带宽高达1kHz~5MHz,且采用PCIE x8倍速传输,板卡传输带宽高达3GB/s,第四代声发射仪存在的传输瓶颈得到解决。除了声发射特征参数和波形的硬件实时提取之外,波形流功能也得以不受带宽限制的全速采集和实时传输。同时,适合分布式检测的千兆网接口的网络声发射仪开始出现,并将逐步向光纤传输发展,实现远距离的分布式声发射检测。
从频率上来划分:
第一个阶段,Dunegan等人把声发射的实验频率提高到100kHz-1MHz;
第二阶段,声发射仪器的信号带宽提高到100kHz~1.2MHz;
第三阶段,声发射仪器的信号带宽拓宽到1kHz~2MHz;
第四阶段,声发射仪器的信号带宽提高到1kHz~3MHz;
第五阶段,声发射仪器的信号带宽提高到1kHz~5MHz;
随着PCIE总线技术和高速ADC的发展,未来可能还会出现10MHz信号频率甚至更高频率的声发射仪。其实,早在1989年10月,日本富士陶瓷公司就生产出了10MHz的标准声发射传感器(型号REF10M)。
从信号获取及分析的方式来看,
第一个阶段,声发射仪采用的是纯模拟的技术;
第二阶段,微处理器被引入到声发射仪中,开始形成模拟和数字电路混合的仪器,信号分析主要是对特征参数进行分析;
第三阶段,声发射仪在信号放大进入ADC之后全面数字化,除了特征参数外,还出现了声发射波形的分析手段;
第四阶段,声发射仪器开始PCI及USB总线化,ADC的采样精度和采样率得以大幅提高,除了特征参数和波形外,还存储了包含全部原始信息的波形流信号。仅仅是由于总线带宽限制而无法获得多通道的全部波形流文件;
第五阶段,声发射仪开始使用PCIE总线,第四代仪器存在的总线带宽瓶颈被打破,除了特征参数和声发射波形外,原始的波形流文件也得以全部实时传输与保存。
声发射仪作为一种典型的虚拟仪器,随着计算机总线技术的发展而提高也是必然的趋势。
⑸ 声发射检测的检测仪器
声发射检测仪器分单通道和多通道两种。单通道声发射仪比较简单,主要用于实验专室材料试验。
多通道声发属射仪是大型声发射检测仪器,有很多个检测通道,可以确定声发射源位置,根据来自各个声源的声发射信号强度,判断声源的活动性,实时评价大型构件的安全性。主要用于大型构件的现场试验。

⑹ 什么是声发射检测技术
声发射是一种常见的物理现象。20世纪50年代初,德国人Kaiser对多种金属材料的声发射现象进行了详尽研究并发现了声发射不可逆效应—Kaiser效应,即声发射现象仅在第一次加载时产生,第二次加载及以后各次加载所产 ...声发射是一种常见的物理现象。20世纪50年代初,德国人Kaiser对多种金属材料的声发射现象进行了详尽研究并发现了声发射不可逆效应—Kaiser效应,即声发射现象仅在第一次加载时产生,第二次加载及以后各次加载所产生的声发射变得微不足道,除非后来所加外应力超过前面各次加载的最大值。这一效应在工业上得到广泛应用,成为用声发射技术监测结构完整性的依据。随着计算机和信号处理技术的迅速发展,声发射技术己日趋成熟,声发射技术应用范围己覆盖航空、航天、石油化工、铁路、汽车、建筑、电力等几乎国民经济的所有领域。一、声发射检测的原理声发射是指物体在受到形变或外界作用时,因迅速释放弹性能量而产生瞬态应力波的一种物理现象。各种材料声发射的频率范围很宽,从次声频、声频到超声频,所以,声发射也称为应力波发射。声发射是一种常见的物理现象,如果释放的应变能足够大,就产生可以听得见的声音。如折断树枝,就可以听见劈啪声。大多数金属材料塑性变形和断裂时也有声发射产生,但声发射信号的强度很弱,人耳不能直接听见,需要藉助灵敏的电子仪器才能检测出来。用仪器检测,分析声发射信号和利用声发射信号推断声发射源的技术称为声发射技术。声发射检测是一种动态无损检测方法,即:使构件或材料的内部结构,缺陷或潜在缺陷处在运动变化的过程中进行无损检测。因此,裂纹等缺陷在检测中主动参与了检测过程。如果裂纹等缺陷处于静止状态,没有变化和扩展,就没有声发射产生,也就不可能实现声发射检测。而且由于声发射信号来自缺陷本身,因此可用声发射法判断缺陷的严重性。声发射检测到的是一些电信号,根据这些电信号来解释结构内部的缺陷变化往往比较复杂,需要丰富的知识和其他试验手段的配合。另一方面,声发射检测环境常常有强的噪声干涉,虽然声发射技术中己有多种排除噪声的方法,但在某些情况下还会使声发射技术的应用受到限制。二、声发射检测仪器发射仪器可分为两种基本类型,即单通道声发射检测仪和多通道声发射源定位和分析系统。单通道声发射检测仪一般由换能器、前置放大器、衰减器、主放大器门槛电路、声发射率计数器以及数模转换器组成。多通道的声发射检测系统则是在单通道的基础上增加了数字测定系统以及计算机数据处理和外围显示系统。(1)换能器声发射装置使用的换能器与超声波检测的换能器相似,也是由壳体、保护膜、压电元件、阻尼块、连接导线及高频插座组成。压电元件通常使用锆钛酸铅、钛酸钡和铌酸锂等。但一般灵敏度比超声波换能器的灵敏度要高。裂纹形成和扩展发出的声发射信号由换能器将弹性波变成电信号输入前置放大器。(2)前置放大器声发射信号经换能器转换成电信号,其输出可低至十几微伏,这样微弱的信号若经过长的电缆输送,可能无法分辨出信号和噪声。设置低噪前置放大器,其目的是为了增大信噪比,增加微弱信号的抗干扰能力,前置放大器的增益为40~60dB。(3)滤波器声发射信号是宽频谱的信号,频率范围可从几赫兹到几兆赫兹,为了消除噪声,选择需要的频率范围来检测声发射信号,目前一般选样的频率范围为扔kHz~2MHzo(4)主放大器和阀值整形器信号经前述处理之后,再经过主放大器放大,整个系统的增益可达到80~100dB。为了剔除背景噪声,设置适当的阀值电压,低于闽值电压的噪声被割除,高于阀值电压的信号则经数据处理,形成脉冲信号,包括振铃脉冲和事件脉冲。(5)信号计数声发射信号的计数包括事件计数和振铃计数。一个突发信号波形进行包络检波后,信号电平超过了设定的阀值电压后形成一个矩形脉冲,一个矩形脉冲叫做一个事件,这些事件脉冲数就是事件计数。单位时间的事件计数称为事件计数率,其计数的累积就称为事件总数。当振铃波形超过这个阀值电压时,超过的部分就形成矩形脉冲,对这些矩形脉冲计数就是振铃计数。单位时间的振铃计数称为声发射率,累加起来称为振铃总数。
⑺ aabr未过是听不到吗
不是的。
我家三个月体检做了几次都没过,做了脑干。结果轻微中耳炎。
随着听力筛查的普及,大部分宝宝在出院前都会进行听力的初步筛查。在听力筛查的初筛中,有一小部分宝宝可能显示的结果是”未通过”。看到这样的结果,家长都会感到非常担忧,听力筛查未通过就是代表宝宝耳聋吗? 当宝宝筛查未通过时,家长接下去该怎么做呢?对于这个问题,让我们先从了解听力筛查开始。
目前卫生部规定在2-7天内进行新生儿听力筛查,在医院生产的宝宝,一般在出生后72小时就进行筛查,及时发现新生儿听力障碍。如果新生儿听力筛查没有通过的话,出院前可以再做一次。还是没有通过的话要进行复筛,即在宝宝42天时到医院进行复查。我国使用的听力筛查仪器,主要有耳声发射(OAE)和自动听性脑干反应(AABR)。筛查的结果都以“通过”或“未通过”表示。
耳声发射: 耳声发射是通常声波传入内耳的逆过程,即产生于耳蜗的声能经中耳结构再穿过鼓膜,进入耳蜗的外毛细胞,然后由外毛细胞反射出能量,在外耳道记录得到。耳声发射与内耳功能密切相关,任何损害耳蜗外毛细胞功能的因素使听力损害超过40dBHL时,都能导致耳声发射明显减弱或消失。耳声发射是一项无创伤性技术,操作简便,测试两耳仅需要10分钟,因此新生儿听力筛查常用TEOAE和DPOAE。
自动听性脑干诱发电位技术(AABR):通过专用测试探头实现的快速、无创的ABR检测方法。AABR 技术的出现和使用,目的在于与OAE技术联合应用于筛查工作,全面检查新生儿耳蜗、听神经传导通路、脑干的功能状态。具有听力损失高危因素的新生儿出现蜗后病变的比例较大。如果单纯使用OAE,可能会漏筛蜗后病变。因此具有听力损失高危因素的新生儿,最好采用OAE和/或AABR联合进行听力筛查,以免漏筛.一般来说,当听力损失超过45dB时,AABR显示为"未通过"
⑻ 声发射仪器的外参通道有什么用途
声发射仪的外参数就是除了声发射信号之外的其他参数。比如做岩石力学声发射时候的‘回’力“答,这就是一个外参数。有了这个参数就可以将声发射信号和力信号关联起来,研究他的相关性。当然,除了力还有其他的外参数,比如温度、湿度、位移等等。
外参数通道就是可以采集这些信号的通道,这个功能有时候是非常有用的。比如PXDAQ18737E的单卡外参数通道有10个,而且可以累加到20、30乃至更多。
⑼ 声发射检测仪需要耦合剂吗
声发射检测仪是否需要耦合剂这个问题,我可以这么回答你。比如汽车需要保养吗回,汽车不保养也是答能开的,但是可能时间久了会影响性能。声发射系统也是一样。不使用耦合剂也能检测到信号,但是信号可能会衰减过大。或者容易受到环境的干扰。
声发射信号是一个很微弱的信号,对环境噪音也比较敏感,我之前做的一个实验,开始怎么也检测不到需要的信号,后来找人一看,加了点耦合剂,信号马上就出来了,所以为实验结果计,还是用一下耦合剂会比较好,特别是接触面不平滑的情况下。且仪器都买了,不差那么点钱买瓶耦合剂,或者用黄油什么代替也可以。
我找到一篇写耦合剂的,内容很完整,你可以看一下。
⑽ 声发射产生的条件
1概述
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acoustic emission inspection 通过接收和分析材料的声发射信号来评定材料性或结构完整性的无损检测方法。材料中因裂缝扩展、性变形或相变等引起应变能快速释放而产生的应力波象称为声发射。1950年联邦德国J.凯泽对金属中的声射现象进行了系统的研究。1964年美国首先将声发射测技术应用于火箭发动机壳体的质量检验并取得成功。 此后,声发射检测方法获得迅速发展。
2声发射技术应用
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声发射技术的应用已较广泛。可以用声发射鉴定不同范性变形的类型,研究断裂过程并区分断裂方式,检测出小于 0.01mm长的裂纹扩展,研究应力腐蚀断裂和氢脆,检测马氏体相变,评价表面化学热处理渗层的脆性,以及监视焊后裂纹产生和扩展等等。在工业生产中,声发射技术已用于压力容器、锅炉、管道和火箭发动机壳体等大型构件的水压检验,评定缺陷的危险性等级,作出实时报警。在生产过程中,用声发射技术可以连续监视高压容器、核反应堆容器和海底采油装置等构件的完整性。声发射技术还应用于测量固体火箭发动机火药的燃烧速度和研究燃烧过程,检测渗漏,研究岩石的断裂,监视矿井的崩塌,并预报矿井的安全性。
3声发射技术特点
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1.声发射法适用于实时动态监控检测,且只显示和记录扩展的缺陷,这意味着与缺陷尺寸无关。而是显示正在扩展的最危险缺陷。这样,应用声发射检验方法时可以对缺陷不按尺寸分类,而按其危险程度分类。按这样分类,构件在承载时可能出现工件中应力较小的部位尺寸大的缺陷不划为危险缺陷,而应力集中的部位按规范和标准要求允许存在的缺陷因扩展而被判为危险缺陷。声发射法的这一特点原则上可以按新的方式确定缺陷的危险性。因此,在压力管道、压力容器、起重机械等产品的荷载试验工程中,若使用声发射检测仪器进行实时监控检测,既可弥补常规无损检测方法的不足,也可提高试验的安全性和可靠性。同时利用分析软件可对以后的运行安全做出评估。
2.AET技术对扩展的缺陷具有很高的灵敏度。其灵敏度大大高于其它方法,例如,声发射法能在工作条件下检测出零点几毫米数量级的裂纹增量,而传统的无损检测方法则无法实现。
3.声发射法的特点是整体性。用一个或若干个固定安装在物体表面上的声发射传感器可以检验整个物体。缺陷定位时不需要使传感器在被检物体表面扫描(而是利用软件分析获得),因此,检验及其结果与表面状态和加工质量无关。假如难以接触被检物体表面或不可能完全接触时,整体性特别有用。例如:绝热管道、容器、蜗壳;埋入地下的物体和形状复杂的构件;检验大型的和较长物体的焊缝时(如:桥机梁、高架门机等),这种特性更明显。
4.声发射法一个重要特性是能进行不同工艺过程和材料性能及状态变化过程的检测。声发射法还提供了讨论有关物体材料的应力—应变状态的变化。所以,AET技术是探测焊接接头焊后延迟裂纹的一种理想手段。同样,象引水压力钢管的凑合节环焊缝,由于拘束度很大,在焊后冷却过程中,焊接造成的拉应力和冷缩产生的拉应力,可能会使应力集中系数较大的缺陷(如:未融合、不规则的夹渣、咬边等)萌生裂纹,这是不允许存在的。为了找出和避免这种隐患,用AET监测也是比较理想的手段。
5.对于大多数无损检测方法来说,缺陷的形状和大小、所处位置和方向都是很重要的,因为这些缺陷特性参数直接关系到缺陷漏检率。而对声发射法来说,缺陷所处位置和方向并不重要,换句话说,缺陷所处位置和方向并不影响声发射的检测效果。
6.声发射法受材料的性能和组织的影响要小些。例如:材料的不均匀性对射线照相和超声波检测影响很大,而对声发射法则无关紧要。因此,声发射法的使用范围较宽(按材料)。例如,可以成功地用以检测复合材料,而用其它无损检测方法则很困难或者不可能。
